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Insplorion Acoulyte

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将光谱学与QCM-D相结合。同时使用纳米等离子体光谱技术(NPS)和耗散监测型石英晶体微天平技术(QCM-D)进行实时测量。

 

主要特征
a、同时获得相同表面上相同样品的干质量(折射率RI)、湿质量(声学)和黏弹性的实时变化。
b、使用Insplorion的纳米等离子体光谱技术(NPS)和Q-Sense的耗散监测型石英晶体微天平技术(QCM-D)在完全相同的实验条件下同时测量。
c、非常容易使用


当配备Q-Sense窗口模块时,Insplorion Acoulyte直接安装在Q-sense Explorer(E1)和Analyzer(E4)仪器上。Insplorion Acoulyte传感器是具有NPS结构的Q-Sensor。


测量池

由Q-Sense窗口模块(QWM401)决定

 

传感器

 尺寸直径                       14 mm
 衬底  SiO2涂层的QCM-D传感器
 表面  纳米结构金
 标准涂层                     Si3N4, SiO2, Al2O3, TiO2

 

 

测量特征

 光源                  卤钨灯
 灵敏度*  0.03单分子层
 测量点直径     3 mm
 时间分辨率  每秒10个采样点
 典型噪音  <0.01 nm
 波长范围  450-1000 nm

QCM-D的测量不受Acoulyte的影响。

 

尺寸(宽度x深度x高度)

 Acoulyte模块                   8x5x3 cm                       
 Insplorion光学单元  25x27x9 cm

 

软件

 兼容软件                                                                        Insplorer
 操作系统  兼容Microsoft Windows操作系统
 数据输出格式  ASCII码文本文件格式,直接使用的任何绘图软件都兼容此格式
 分析的参数  分析的参数多参数输出(比如:LSPR峰处的共振波长和消光)

NPS和QCM-D的互补性

测量 

感应深度 

NPS

干质量

< 30 nm

QCM-D

湿质量

> 300 nm

Acoulyte

干质量和湿质量

深度分析

 
 

InsplorionNPS技术

在纳米等离子体光谱技术(NPS)中,纳米结构传感器的局域表面等离激元共振技术(LSPR)用于探测邻近传感器表面(<30 nm)的折射率(与光/干质量有关)的微小变化。它能够极其灵敏地检测发生在传感器/样品界面处的变化过程。




分子解吸附(吸附) 

时间和深度分辨测量厚膜(<~1 mm)的分子解吸附(吸附)。Acoulyte也可以辨别溶胀和吸附/解吸附事件。

检测到什么? 

NPS 

邻近表面(<30 nm)的折射率变化

QCM-D 

整个膜的质量变化。 


脂质双层膜 

Acoulyte能够更详细地阐释表面薄膜的形成过程。

检测到什么? 

NPS 

囊泡吸附时折射率增大
囊泡坍塌时折射率增大

QCM-D 

囊泡吸附时质量增大
囊泡坍塌时质量减小


气体吸附/解吸附 

通过QCM-D技术和NPS技术的联用,就可以实现深度分析以及研究表面支撑膜内的扩散时间和机制。

检测到什么? 

NPS 

传感器/样品界面的折射率变化。

QCM-D 

整个膜和膜的顶部的质量变化。




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