电话  010-64415767 | 010-64448295

首页>产品中心

纳米等离子体传感分析仪(NPS)

作者:阅读量: 分享到:
  • 产品信息
  • 技术指标
  • 应用领域
  • 索取报价

名称:纳米等离子体传感分析仪(NPS)

品牌:Insplorion

产地:瑞典

型号:Insplorion Acoulyte


• 了解复杂表面和薄膜的变化过程。
• 同时获得相同表面上相同样品的干质量(折射率RI)、湿质量(声学)和黏弹性的实时变化。
• 使用Insplorion的纳米等离子体光谱技术(NPS)和Q-Sense的耗散监测型石英晶体微天平技术(QCM-D)     在完全相同的实验条件下同时测量。

Insplorion NPS 技术

纳米等离子体光谱技术(NPS),纳米结构传感器的局域表面等离子体共振(LSPR)用于探测邻近传感器表面(< 30 nm)的折射率(与光/干质量有关)的微小变化。它能够极其灵敏地检测发生在传感器/样品界面处的变化过程。

Q-Sense QCM-D 技术

耗散监测型石英晶体微天平技术(QCM-D)使用振荡石英圆盘测量圆盘表面薄膜的质量和黏弹性。当薄膜附着在传感器上时,振荡的共振频率降低。通过测量耗散,就可以确定吸附的膜是刚性还是弹性(软性)。

传感器结构

Acoulyte的传感器由Q-Sensor组成,Q-Sensor的顶部电极涂有一层SiO2层,NPS的传感结构位于SiO2层上方。传感器可以涂上一层薄的介电材料。标准涂层包括 SiO2, Si3N4, Al2O3 和TiO2

联用的测量装置

Insplorion Acoulyte的传感器安装在标准的Q-Sense窗口模块内,并且Insplorion Acoulyte的光学支架位于模块上方。
质量、黏弹性和折射率(RI)的实时变化,快速和可靠地了解复杂变化过程的补充信息。

分子构成/构象

检测到什么?
NPS QCM-D
分子量和/或构象变化引起的表面折射率变化。

分子吸附/解吸附或溶剂含量变化引起的质量变化。
构象变化引起的刚度变化。

NPS和QCM-D测量的联用将帮助阐释分子吸附、构象变化和溶剂损失的信号。


分子解吸附(吸附)

检测到什么?
NPS QCM-D
邻近表面(<30 nm)的折射率变化
整个膜的质量变化。

时间和深度分辨测量厚膜(<~1 mm)的分子解吸附(吸附)。Acoulyte也可以辨别溶胀和吸附/解吸附事件。


脂质双层膜

检测到什么?
NPS QCM-D
囊泡吸附时折射率增大
囊泡坍塌时折射率增大
囊泡吸附时质量增大
囊泡坍塌时质量减小

Acoulyte能够更详细地阐释表面薄膜的形成过程

气体吸附/解吸附

检测到什么?
NPS QCM-D
传感器/样品界面的折射率变化。
整个膜和膜的顶部的质量变化。

通过QCM-D技术和NPS技术的联用,就可以实现深度分析以及研究表面支撑膜内的扩散时间和机制。

如果您觉得这个产品适合您,请给我们留言,我们会第一时间与您联系!
姓名:
电话:
邮箱:
公司名称:
留言:
*
北京正通远恒科技有限公司      地址:北京市朝阳区胜古中路2号院7号楼A座611室      邮编:100029       京ICP备12001926号-1
Designed by Wanhu