Allalin平台包括广泛的分析SEM工具，如阴极发光(CL)，光致发光(PL)，时间分辨CL和PL，以及电子束感应电流(EBIC)分析。新推出的纳米探测解决方案通过在低至几纳米的尺度上添加电气表征、驱动和纳米操作来扩展这些功能。
由于样品和极片之间的间隙，以及集成在SEM柱中的独特光学收集系统，Imina Technologies的miBots™紧凑而坚固，可以无缝集成到Allalin平台中。因此，SEM和CL扫描的质量和速度与所有Allalin系统一样高。
首个Allalin-miBots™平台已成功安装于香港大学崔教授实验室。这种独特的实现将使团队能够同时进行原位SEM，阴极发光和电气器件表征，从而更深入地了解半导体材料的特性。
“我们非常自豪能够提供这一独一无二的解决方案，与Attolight合作是一次绝佳的体验。Allalin集成了miBots，旨在为各种材料的基本特性提供更深入的见解，我相信它将有助于推动材料科学和半导体研究的发展。我期待着第一个结果，并部署更多这些先进的系统。——Imina Technologies的联合创始人纪尧姆·博奇(Guillaume Boetsch)说。
“Imina Solutions以其高质量的纳米探测技术而闻名，我们很高兴在Allalin平台上引入这一新功能。研究人员将受益于为先进半导体和材料研究量身定制的独特实现。我们已经收到了这次整合的新订单，并热切期待第一批结果，”atolight AG分析销售主管Nicolas Medard说。
在Allalin平台上找到更多信息:https://attolight.com/allalin/
了解更多有关Imina Technologies解决方案的信息:https://imina.ch/en/products/nano-robotics-solutions-electron-microscopes
