CL-SEM阴极发光分析是一种高效的微观检测技术，广泛应用于半导体、矿物、陶瓷及纳米材料等领域。该系统可精准分析材料晶格结构、缺陷分布及掺杂状态，为芯片研发、材料评估等提供关键数据支持。我司配备高分辨率CL-SEM系统，支持多波段光谱采集和定制化检测方案，助力科研与生产中的材料表征需求。

缺陷检测与分类

元素成分分布探测

材料内部掺杂缺陷的检测与分类

定量分析

晶体缺陷密度分析测量

带隙随材料的成分不同而变化

时间分辨测量(皮秒级)

局部辐射和非辐射载流子寿命的测量

量子点中载流子能量弛豫过程的时间分辨测量

测样服务说明：

 2. 多个样品检测（≥2个）：按实际检测项目收取基础成本费用

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