Attolight作为生产高科技设备-阴极荧光扫描电镜的世界顶尖公司，应邀参加国际显示盛会Display Week 2021 (2021年5月17日至21日)。本届显示行业的会议聚集了OLED、MicroLED、AR/VR/MR、打印显示器等领域的国际专家及在此行业最有影响力的公司。在此情形下，Attolight行业应用主管Matthew Davies将应邀在“Micro LED DisplayMetrology”会议期间做一个精彩演讲。以下为他的演讲摘要：

演讲主题：大量生产µled的成本效益探测

演讲人：Mattheu Davies, Attolight AG-Switzerland 

主要内容：大量生产的µled带来了一系列新的挑战，这些挑战与每个晶圆器件数量和密度的大幅增加有关，特别是在测量时间、空间分辨率和晶圆吞吐量方面。在这里，我们为µled的晶圆电平测量提供了一种成本适当的探测解决方案，专门设计用于解决后前端设备验证的需求。

欢迎感兴趣的同仁参加他在5月20日(周四)下午的演讲。

想了解更多，请登录会议网站（http://www.displayweek.org/）

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